1臺(tái)儀器可連續(xù)測(cè)量聚合體電容、導(dǎo)電性高分子電解電容、導(dǎo)電性高分子鉭電容等低臺(tái)儀器可連續(xù)測(cè)量聚合體電容、導(dǎo)電性高分子電解電容、導(dǎo)電性高分子鉭電容等低ESR、靜電容量。

· 使用阻抗分析儀IM3570的LCR模式，連續(xù)進(jìn)行120Hz下的C-D測(cè)量，100kHz下的ESR測(cè)量。
· ESR測(cè)量使用低阻抗高精度模式?？蛇M(jìn)行改善后的低阻抗測(cè)量反復(fù)精度。通過(guò)使用4端子的接觸檢查功能（僅開(kāi)路檢查），可實(shí)現(xiàn)更加準(zhǔn)確的測(cè)量。
· 使用比較功能，分別判斷C-D和ESR。
· 連續(xù)測(cè)量中的測(cè)量頻率的切換等待時(shí)間縮短至 1ms，實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量。

阻抗分析儀：IM3570
4端子探頭L2000

※ 記載的內(nèi)容是根據(jù)2010年7月發(fā)行的儀器型號(hào)。產(chǎn)品參數(shù)可能會(huì)有更改，請(qǐng)以現(xiàn)在發(fā)行的為準(zhǔn)。